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近日,成都高新区天府绛溪实验室先进芯片测试与标准前沿研究中心在未来科技城成立,将聚焦先进芯片测试技术与标准研究,为集成电路产业升级注入动能。
在技术层面,中心已在动态可重构测试架构、自适应非均匀综合校准、多信息域同步分析、超宽带信号合成等领域取得突破,成功研制出高速大规模SOC测试机、存储器测试机、射频集成电路测试机等样机系统。
未来,中心将构建“测试方法与标准-测试设备-计量检定溯源”完整技术体系,强化从基础研究到产业落地的全链条能力。天府绛溪实验室相关负责人表示,实验室将以中心为依托,积极服务国家质量基础设施建设,助力四川省及西部地区集成电路产业升级。
(文/任欣怡)
